ÖZ
X-Işını difraksiyonu yöntemi (XRD), daha çok mineral tipi tanımlaması (kalitatif analiz) için kullanılırken, minerallerin kantitatif kimyasal içerik analizi için titrasyon (yaş kimyasal analiz), X-Ray Fluressance (XRF), Atomik Absorbsiyon Spektrometresi (AAS), İndüktif Çiftlenmiş Plazma Kütle Spektrometresi (ICP-MS) gibi yöntemler kullanılmaktadır. Kantitatif analiz yöntemleri, temelde analiz yöntemleri ve sonuçları bakımından benzer olmasına karşın analiz yöntemlerine göre büyük farklılıklar göstermektedir. X-Işını kırınımı tekniği ile kalitatif yani mineral tipi tanımlama işlemi yapılırken, başka teknikler kullanılarak bu minerallerin kantitatif sonuçları da elde edilebilmektedir. Bu yöntem tercihi, bir numunede belirli bir mineral türünün kantitatif analizinin araştırıldığı çalışmalarda önem arz etmektedir. Örneğin, bir kayaç numunesindeki Silisyum (Si) ve Kuvars (SiO2) oranı birbirinden farklıdır. Çünkü silisyum sadece kuvarstan değil, kayaç içerisindeki diğer silisyum bileşiklerinden de kaynaklanmaktadır. Bir kayaç içerisindeki kuvars miktarı ince kesit veya parlak kesit hazırlanarak Polarize Işık Mikroskobu (PLM) ile tespit edilirken, silisyum içeriği sadece titrasyon ile tespit edilebilmektedir. Bu nedenle tekil minerallerin kantitatif analizinde X-Işını kırınımı tekniğinin çok daha etkin sonuçlar vermesi beklenmektedir. Bu çalışmada, bilinen değişik oranlardaki kalsit ve kuvars mineralleri X-Işını Kırınımı (XRD) Rietveld teknikleri ile tespit edilmiştir. Çalışma sonucunda kontrol numune içerik değerleri elde edilmiş olup, bir örnekteki mineral tayinlerinde doğru sonuçlar alınacağı görülmüştür.
0 yorum:
Yorum Gönder