ÖZ
Bu çalışmada ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile 275±5oC taban sıcaklığında farklı Bor hacimsel oranlarında (%10-20-30-40-50) CdS filmleri elde edilmiştir. Üretilen filmlerin yapısal, optiksel, yüzeysel ve elektriksel özellikleri incelenerek B elementinin etkisi araştırılmıştır. Cd1-xBxS filmlerinin spektroskopik elipsometre ile kalınlıkları ve bazı optik parametreleri belirlenmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden, tüm filmlerin polikristal yapıda oluştuğu belirlenmiştir. Cd1-xBxS filmlerinin optik özellikleri incelenmiş ve yaklaşık olarak 2,32 -2,44eV arasında yasak enerji aralıklarına sahip oldukları saptanmıştır. Atomik Kuvvet Mikroskobu ile filmlerin üç boyutlu yüzey topografileri ve yüzey pürüzlülükleri incelenmiştir. Taramalı Elektron Mikroskobu ile filmlerin yüzey özellikleri incelenmiş ve Enerji Dağılımlı X-ışınları Spektrometresi ile elemantal analizleri yapılmıştır. Filmlerin özdirenç değerleri dört uç metodu ve elektriksel iletkenlik tipleri sıcak uç tekniği kullanılarak belirlenmiştir.
0 yorum:
Yorum Gönder